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薄膜鐵電性能綜合測試儀

型號：FETS-2000b

FETS-2000b 薄膜鐵電性能綜合測試儀具有動態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測...

高溫鐵電測試儀

型號：FETS-2000

研禾科技FETS-2000高溫鐵電測試儀可用于高溫環(huán)境下材料鐵電性能測試中測試信號的輸出和反饋信號的收集，可進(jìn)行電滯回線測試、漏電流測試、疲勞測試、電擊穿強(qiáng)度測試、小信號電容測試、PUND測試、印痕測...

電容充放電測試儀

型號：CCDM-1000

CCDM-1000電容充放電測試儀用于研究電容的高電壓充放電性能，集控制器、高壓電源、信號采集器于一體，具有過阻尼、欠阻尼、疲勞等測試功能，配有高壓擊穿保護(hù)模塊。系統(tǒng)自動采集充放電過程樣品兩端電壓變化...

變溫鐵電測試系統(tǒng)

型號：FETS-2000

FETS-2000變溫鐵電測試系統(tǒng)可用于高低溫環(huán)境下材料鐵電性能測試中測試信號的輸出和反饋信號的收集，可進(jìn)行電滯回線測試、漏電流測試、疲勞測試、電擊穿強(qiáng)度測試、小信號電容測試、PUND測試、印痕測試、...

變溫電卡效應(yīng)測試系統(tǒng) 電卡測試

型號：ECTS-2000

ECTS-2000變溫電卡效應(yīng)測試系統(tǒng) 電卡測試采用直接法進(jìn)行測量，直接測量高低溫變溫環(huán)境下材料電卡效應(yīng)的等溫熵變，具有集成度高、測量精度高、靈敏度高、溫區(qū)寬等特點(diǎn)，具有高壓擊穿保護(hù)功能。配置專用的電...

中低溫?zé)後岆娤禂?shù)測試系統(tǒng)

型號：PCTS-3000

PCTS-3000中低溫?zé)後岆娤禂?shù)測試系統(tǒng)采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。

高低溫介電溫譜測試儀

型號：DPTS-3000

DPTS-3000高低溫介電溫譜測試儀（單通道、多通道）兼容安捷倫、是德、穩(wěn)科、益和、同惠等品牌的阻抗分析儀或LCR表，同時(shí)具有單通道和4通道測量模式，單通道模式適用于追求超高精度測量結(jié)果的場合，4通...

高溫介電溫譜測試系統(tǒng)

型號：DPTS-RT-600

DPTS-RT-600高溫介電溫譜測試系統(tǒng)適用于電介質(zhì)材料介電溫譜、介電頻譜掃描的測試。系統(tǒng)軟件將高溫測試箱、高溫測試夾具、多通道切換器、阻抗分析儀等設(shè)備無縫連接，測量在不同溫度、不同測試頻率下電容(...

TECHNICAL ARTICLES

技術(shù)文章

發(fā)布時(shí)間
20258-29

鐵電測試儀是用于表征鐵電材料核心電性能的設(shè)備
鐵電測試儀廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子工程、新能源等領(lǐng)域，核心作用是驗(yàn)證鐵電材料是否具備“自發(fā)極化可被外電場反轉(zhuǎn)”的關(guān)鍵特性，為鐵電存儲器、壓電傳感器、熱釋電探測器等器件的研發(fā)與生產(chǎn)提供數(shù)據(jù)支撐。鐵電測試儀的核心是通過施加可控電場，測量材料的極化強(qiáng)度、電流等響應(yīng)信號，從而分析其鐵電性能。核心功能?電滯回線測試?：通過施加不同波形電壓信號，采集材料電荷或形變信號，分析材料的極化特性。??漏電流測量?：評估材料在電場下的電流泄漏情況，反映材料穩(wěn)定性。??剩余極化率測試?：測量材料斷電...
發(fā)布時(shí)間
20258-25

從基本開始認(rèn)識偏壓介電測試
許多電子器件在實(shí)際工作時(shí)都處于一定的偏置電場環(huán)境中。偏壓介電測試能夠在實(shí)驗(yàn)室條件下準(zhǔn)確地模擬這種實(shí)際工況，使得測試結(jié)果更貼近材料或器件在真實(shí)電路中的性能表現(xiàn)。例如，在集成電路中的電容元件，其工作時(shí)往往受到直流偏置的影響，通過該測試可以準(zhǔn)確預(yù)測其在實(shí)際電路中的介電行為，為電路的設(shè)計(jì)和優(yōu)化提供可靠依據(jù)。材料在偏置電場下往往呈現(xiàn)出非線性的介電特性?？梢约?xì)致地研究這種非線性關(guān)系，有助于深入理解材料的微觀物理機(jī)制。比如對于某些新型的介電材料，通過分析其在不同偏壓下的電容變化曲線，可以推...
發(fā)布時(shí)間
20257-30

高溫?zé)後岆姕y試系統(tǒng)主要用于測量熱釋電材料的熱釋電系數(shù)
高溫?zé)後岆姕y試系統(tǒng)是一種用于測量熱釋電材料在高溫環(huán)境下熱釋電系數(shù)的精密儀器，通過分析材料在溫度變化時(shí)產(chǎn)生的表面電荷變化來評估其熱釋電性能。熱釋電效應(yīng)是指材料在溫度變化時(shí)，其自發(fā)極化強(qiáng)度發(fā)生變化，從而在與極化方向垂直的晶體表面產(chǎn)生感應(yīng)電荷的現(xiàn)象。高溫?zé)後岆姕y試系統(tǒng)通過測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放的熱釋電電流，結(jié)合溫度變化率，計(jì)算得到材料的本征熱釋電系數(shù)。功能：?測量熱釋電系數(shù)?：在均勻升溫過程中，通過檢測材料釋放的電流計(jì)算本征熱釋電系數(shù)，適用于薄膜、厚膜、單晶、陶瓷等不同...
發(fā)布時(shí)間
20257-22

為什么要進(jìn)行高溫介電溫譜測試？
高溫介電溫譜測試憑借其深入洞察材料高溫特性、準(zhǔn)確評估性能以及非破壞性等諸多優(yōu)點(diǎn)，在材料科學(xué)研究、電子工業(yè)、能源領(lǐng)域等眾多方面都發(fā)揮著不可少的重要作用，助力科研人員與工程師們更好地把握材料在高溫環(huán)境下的行為奧秘，進(jìn)而推動相關(guān)技術(shù)的創(chuàng)新與發(fā)展。它能夠測定材料在不同溫度下的介電性能，進(jìn)而對材料的結(jié)構(gòu)與性質(zhì)進(jìn)行研究。以下是其測定步驟及使用注意事項(xiàng)：-選擇合適的測試設(shè)備和夾具，如高溫恒溫器、介電測試夾具、LCR阻抗分析儀等。-對樣品進(jìn)行預(yù)處理，如清洗、干燥等，確保樣品表面干凈無雜質(zhì)。-...
發(fā)布時(shí)間
20257-16

高溫介電溫譜測試中的注意事項(xiàng)
高溫介電溫譜測試是一種用于研究材料在高溫環(huán)境下介電性能隨溫度變化特性的重要手段。其工作原理基于電磁學(xué)和電介質(zhì)物理的基本理論。當(dāng)對被測材料施加一定頻率的交變電場時(shí)，材料內(nèi)部的極化現(xiàn)象會發(fā)生。在電場作用下，材料中的電荷會發(fā)生位移，形成電偶極矩或空間電荷極化等。這些極化過程會使得材料表現(xiàn)出電容和損耗的特性。在高溫介電溫譜測試中，通過改變溫度并同時(shí)測量材料在不同溫度下的電容和損耗角正切等介電參數(shù)，來獲取材料的介電溫譜。具體來說，測試系統(tǒng)會產(chǎn)生一個交變電場，通常由信號發(fā)生器提供特定頻率...
發(fā)布時(shí)間
20257-3

高溫d33測試是用于評估壓電材料在高溫環(huán)境下壓電性能的測試方法
高溫d33測試是用于評估壓電材料(如壓電陶瓷、高分子材料)在高溫環(huán)境下壓電性能的測試方法，主要測量其壓電常數(shù)d33隨溫度變化的特點(diǎn)。通過動態(tài)法或靜態(tài)法測量壓電材料在高溫環(huán)境中的壓電性能，可獲取材料在不同溫度下的d33參數(shù)變化曲線(即壓電溫譜圖)，從而分析其高溫穩(wěn)定性、介電性能等關(guān)鍵指標(biāo)。d33是壓電材料的重要性能參數(shù)，表示材料在極化方向(Z軸)受到外力作用時(shí)，電極面上產(chǎn)生的電荷密度與應(yīng)力的比值。高溫d33測試旨在分析d33隨溫度變化的規(guī)律，即壓電溫譜圖，為材料的高溫應(yīng)用提供數(shù)...